vom 19.-20.03.2019
Wir sind vor Ort! Herr Dr. Engelbert Hofbauer und Herr Dr. Ronald Kometer halten Vorträge über:
Fast and Reliable In-Situ Measurement of Large and Complex Surfaces Using a Novel Deflectometric Device
und
A New Approach to Surface Shape and Centering Measurement on Aspheres with the New V-SPOT Technology on Sample #3
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