So arbeiten Wirtschaft und Wissenschaft zusammen
Vignettierendes Feldblenden-Verfahren nach Dr. Hofbauer ermöglicht neue Fertigungsverfahren bei gekrümmten Teleskopspiegeln an der TH Deggendorf
Damit sind sowohl Planspiegel als auch sphärische und in Zukunft auch asphärische Substrate messbar. Die präzise, absolute Radienbestimmung - vor allem bei großen Radien von mehreren Metern - ist eine Aufgabe, welche mit klassischen Interferometern nicht oder nicht ohne weiteres zu realisieren ist.
Beim neuen DaOS-Verfahren ist der Lichtstrahl die Geradheitsreferenz gegen den die gekrümmte Oberfläche mit Hilfe inkrementaler Winkelabschmitte vermessen werden kann.
Langwellige sphärische Abweichungen mit präziser Bestimmung midfrequenter Strukturen (Seidel-Aberrationen höherer Ordnung) sollen damit zunächst auf rotationssymmetrischen Flächen erfassbar werden. Der Artikel zeigt den aktuellen Stand der Forschung in dieser Thematik und vergleicht unter Anderem die Ergebnisse zwischen Interferometrischen, Deflektometrischen AKF-Verfahren und dem neuen Vignettierungsprinzip an einer speziell gefertigten Plan-Asphäre, einem so genannten Doppelsombrero. Das Verfahren soll in Zukunft zur InSitu-Messung an CNC-gesteuerten Doppelexzenter Hebelpoliermaschinen (u.a. Fa. Stock Konstruktion GmbH) eingesetzt werden.
Artikel in Optik&Photonik 5/2016
