Wir bedanken uns für Ihren Besuch auf unserem Messestand bei der OPTATEC 2022 in Frankfurt. Unser neues Messgerät zur Messung von Asphären, auch beidseitig, fand reges Interesse! Gerne senden wir Ihnen dazu Unterlagen!
Freitag, 21. Oktober 2022
Freitag, 30. September 2022
Verpassen Sie nicht unseren Vortrag am 19.10.22 um 11.40 Uhr auf der OPTATEC
Vom 18. bis 20. Oktober 2022 öffnet die Optatec – internationale Fachmesse für Optische Technologien, Komponenten und Systeme – ihre Pforten am gewohnten Messestandort Frankfurt/Main. Der Anteil der ausländischen Aussteller mit mehr als 45 Prozent beweist einmal mehr die Bedeutung dieser Leitmesse. An keinem anderen Messestandort treffen sich Experten, Hersteller und Anwender der Optotechnik und Bildverarbeitung so fokussiert wie bei der Optatec.
Unser Vortrag beschäftigt sich mit der Zentriermessung an Asphären, auch doppelseitig.
Produktionsleiter, Manager in der Qualitätssicherung, Fertigungsleiter und Systemintegratoren erwarten die Optatec 2022 erneut als Schlüsselmesse für den Bereich Optotechnik und Bildverarbeitung. Sie erhalten hier ein umfassendes Bild über das weltweite Angebot an Produkten, Detail- und Systemlösungen sowie Anwendungen: optische Bauelemente, Optomechanik, Optoelektronik, Faseroptik, Lichtwellenleiter, Laserkomponenten sowie Fertigungssysteme. Die Optatec, die in diesem Jahr zum 15. Mal stattfindet, hat sich als exklusiver Branchentreff etabliert – klein, fein und spezialisiert. Fachbesucher mit Entscheidungskompetenz treffen hier auf Experten aus unterschiedlichen Bereichen und ein konzentriertes, hochmodernes und zukunftsweisendes Angebot. Der Messebesuch wird für eine punktgenaue Zielgruppenansprache genutzt und erleichtert Investitionsentscheidungen wesentlich.
Donnerstag, 15. September 2022
EurA Photonic Days vom 25.-26.10.2022
Verpassen Sie nicht unseren interessanten Vortrag über "Asphärenzentrierung - auch doppelseitig" von Dr.-Ing. Engelbert Hofbauer!
Hier geht es zur Anmeldung:
Mittwoch, 7. September 2022
Montag, 2. Mai 2022
LASER World Photonics 2022
Wir bedanken uns ganz herzlich für Ihren Besuch auf unserem Messestand, die interessanten Gespräche und die damit verbundenen, anstehenden neuen Projekte! Kontaktieren Sie uns gerne, wenn Sie noch Fragen haben zu unseren neuen Messgeräten ELWLAN oder MZM zur Zentriermessung.
Samstag, 23. April 2022
Absolut kabellos – neuer kabelloser WINKEL- und POSITIONS-Sensor ELWLAN
Derzeit werden technische Oberflächen nach dem klassischen Prinzip der Neigungsmessung vorzugsweise mit Autokollimator und Planspiegel vermessen. Die Firma HOFBAUER OPTIK Mess- & Prüftechnik hat dazu noch die absolute Geradheitsmessung mit kabellosem Reflektor nach der Höhenmethode entwickelt. Der einfach zu handhabende ELWIMAT® ist hier bereits erprobt und ein Verkaufserfolg.
Nun kommt eine Neuerung hinzu: der kabellose ELWIMAT®-Sensor ELWLAN! Damit ist nun nicht nur der Reflektor kabellos, sondern auch der Messkopf.
So können Winkel- und Positionsmessungen nun auch an unzugänglichen und kritischen Stellen ohne "Kabelsalat" mit höchster Präzision durchgeführt werden.
Die Daten werden per WLAN auf die App am Smartphone, Tablet oder WINDOWS-PC übertragen, angezeigt und ausgewertet. So können komplette Arbeitsprozesse wie z. B. eine Geradheitsmessung o. Ä. komplett an den entlegensten Stellen an Maschinen und Anlagen durchgeführt werden - und das völlig ohne lästige, störende Kabelverbindungen!
Der Sicherheitsaspekt ist hierbei natürlich ein wichtiger Faktor: Kein Stolpern über Kabel, keine schmutzigen, beschädigte oder defekte Kabel mehr!
Die Reichweite bei Sichtverbindung beträgt ca. 150 m.
Die Akkulaufzeit beträgt in der kleinen Version ca. 3 Stunden, in der Power-Ausstattung bis zu 6 Stunden. Danach kann mit einer Powerbank gearbeitet oder der interne Akku am Strom-Netz aufgeladen werden.
Die Verbindung erfolgt über den integrierten WLAN-Hotspot. Natürlich kann der Sensor auch als WLAN-Client oder über ein LAN-Kabel in eine bestehende Netzwerkinfrastruktur eingebunden werden.
Kommen Sie auf die LASER-Messe in München, Halle B6 Stand 245!
Donnerstag, 10. März 2022
Donnerstag, 24. Februar 2022
Muss die Geschichte zur Zentrier-Messtechnik an Asphären neu geschrieben werden oder zumindest die Norm DIN ISO 10110-6 überarbeitet werden?
Dies beinhaltet zum einen größere langwellige „Passe“-Abweichungen mit bis zu mehreren Mikrometer, als auch Mittelfrequente Fehler (MSFE) im Frequenzbereich von 0,1 bis 1 pro Millimetern und mehr.
Die MSFE-Fehlerbilder beinhalten Strukturen in Form von Speichen und als so genannte Zwiebelringe.
In unserem Beispiel an einer 22 mm Forbes-Asphäre sind beide Fehlerbilder geringfügig enthalten. Die Oberflächentopografie zeigt ein tiefpass-gefiltertes Bild, das dem Footprint eines Abtaststrahles von ca 1 mm entspricht. So wie wir das mit unserem ELWIMAT-V-SPOT 46/40 F#5,6 bei entsprechender Vorsatzlinse f’ = 200 mm an einem Prüflingsradius von nominal etwa 20 mm erhalten. Die Amplitude der IRR (Unregelmässigkeitsfunktion) beträgt nach Korrektur des SAG-Anteiles ca. 75 nm.
Die angedeuteten Speichen zeigen einen erhöhten Omega-12-Anteil. Radial ist eine Art Doppelsombrero überlagert.
Was unser Interesse daran ist, ist die Frage, wie diese nicht ideale Asphärenfläche einer „ordentlichen“ Zentriermessung und „sauberen“ Zentrierauswertung unterzogen werden kann.
Wie der aufmerksame Betrachter unschwer erkennen kann, hat das Zentrum der Linse eine asymmetrische Vertiefung mit einem Durchmesser von circa ein bis zwei mm. Ausserdem ist dieses leicht zur Mitte versetzt (geschätzt 50-100 µm?).
Wie wird die Zentrierung hier gemessen? Welche Anteile der Asphäre gehen in die Betrachtung ein? Was spielt der Scheitel mit dem Loch dabei für eine Rolle, wenn Punktsensoren das gar nicht in der geforderten Auflösung von 1 wsec auflösen können (5 nm pro 1 mm Anstiegslänge) und Autokollimatoren am Scheitel einen Spotdurchmesser (Footprint) von mindestens 3 bis 5 mm haben und das gar nicht Lokal auflösen können?
Diskutieren Sie mit. Wir freuen uns auf Ihre Ansätze und Lösungsvorschläge.